櫻井 滋賢 | 日本電子(株)

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概要

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著作論文

• 4. CRYO-SEM,フリーズ・レプリカによる凍結傷害発生機構の研究(平成元年度第35回凍結及び乾燥研究会研究報告)
• CRYO-SEM像,フリーズ・レプリカ像を連続観察するためのNEW CRYO-UNITの開発とその応用(昭和63年度第34回凍結及び乾燥研究会研究報告)
• 6a-AE-10 L-type及びDL-typeレシチンの結晶構造

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