笹木 宣良 | NEC・評価技術開発本部

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概要

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関連著者

• 笹木 宣良

  NEC・評価技術開発本部

• 宮崎 達也

  Nec・カラー液晶事業部

• 長谷川 悦雄

  NEC機能エレクトロニクス研究所

• 長谷川 悦雄

  Nec

• 白石 英亮

  Nec・カラー液晶事業部

• 藤島 伸二

  NEC・評価技術開発本部

• 八巻 潤子

  NEC・評価技術開発本部

• 桑田 恒

  NEC・カラー液晶事業部

• 斉藤 悟郎

  Nec

• 斉藤 悟郎

  NEC機能エレ研

• 笹木 宣良

  NEC分析評価センター

• 笹木 宣良

  NECエレクトロンデバイス・評価技術開発本部

• 笹木 宣良

  Analysis and Evaluation Technology Center, NEC corporaiton

• 塩谷 計二

  Analysis and Evaluation Technology Center, NEC corporaiton

• 塩谷 計二

  Analysis And Evaluation Technology Center Nec Corporaiton

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著作論文

• 2PC19 輝度ムラの原因によるフリッカー波形の変化
• 3B12 液晶化合物の電場安定性とデバイス特性 (2)
• 3C06 汚染の電圧保持率への影響
• PCb04 フリッカー観測によるイオン密度測定法

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