大西 修平 | 株式会社島津製作所分析計測事業部NDIビジネスユニット
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概要
関連著者
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枝廣 雅美
(株)島津製作所 分析計測事業部 応用技術部 京都アプリケーション開発センター
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浮田 昌昭
株式会社島津製作所基盤技術研究所
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島津製作所
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(株)島津製作所分析計測事業部No 1ビジネスユニット
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(株)島津製作所 分析計測事業部ndiビジネスユニット
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著作論文
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- マイクロフォーカスX線CT技術と半導体検査への応用(光部品の実装,信頼性)
- マイクロフォーカスX線CT技術と半導体検査への応用