山崎 一生 | 電子技術総合研究所パターン情報部

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概要

• 同名の論文著者
• 電子技術総合研究所パターン情報部の論文著者

関連著者

• 山崎 一生

  電子技術総合研究所パターン情報部

• 山崎 一生

  電子技術総合研究所

• 飯島 泰蔵

  東京工業大学

• 飯島 泰蔵

  電子技術総合研究所,飯島特別研究室

• 桑原 京子

  電子技術総合研所 バターン情報部

• 飯島 泰蔵

  電気試験所

• 吉村 ミツ

  名古屋大学・工学部

• 吉村 ミツ

  電気試験所電子計算機部

• 山崎 一生

  電気試験所電子計算機部

著作論文

• 大量印字データの品質評価
• 文字図形の重心とひろがり量との計算法
• 大量印字品質評価法
• 計算機による標準文字図形の発生
• 文字図形の重心とひろがりについて
• 文字集団の印字品質の数量表現
• 大量印字データ品質評価装置

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