山崎 一生 | 電子技術総合研究所
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概要
関連著者
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山崎 一生
電子技術総合研究所
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山崎 一生
電子技術総合研究所パターン情報部
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飯島 泰蔵
東京工業大学
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飯島 泰蔵
電子技術総合研究所,飯島特別研究室
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桑原 京子
電子技術総合研所 バターン情報部
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山崎 一生
電子技術綜合研究所
著作論文
- 大量印字データの品質評価
- 文字図形の重心とひろがり量との計算法
- 大量印字品質評価法
- 計算機による標準文字図形の発生
- 文字パターンの白黒2値化法
- 文字集団の印字品質の数量表現
- 大量印字データ品質評価装置