諏訪 昌樹 | 東京理科大学理学部応用化学科

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著作論文

• 四極子型質量分析計による低エネルギー二次イオン分析法の表面スパッタリング特性とオージェ電子分光法との比較
• 低エネルギ-二次イオン質量分析計による研摩剤に関する銅の表面汚染研究
• Study of contamination on copper surface with abrasive materials by low energy secondary ion mass spectrometry.

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