水平 学 | Panalytical

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概要

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関連著者

• 水平 学

  Panalytical

• 松田 賢士

  スペクトリス株式会社 PANalytical 事業部

• 松田 賢士

  スペクトリス株式会社パナリティカル事業部

• 水平 学

  スペクトリス PANalytical 事業部

• 中井 泉

  東京理科大学 理学部 応用化学科

• 保倉 明子

  東京理科大学理学部応用化学科

• 中井 泉

  東京理科大学理学部応用化学科

• 中井 泉

  筑波大化

• 中井 泉

  東理大理学部

• 保倉 明子

  東京理大理

• 保倉 明子

  東京理科大学理学部

• 山本 信雄

  古河電気工業株式会社横浜研究所

• 中井 泉

  東京理科大学

• 米澤 周平

  東京理科大学理学部応用化学科

• 簗田 陽子

  東京理科大学理学部応用化学科

• 下田 玄

  産総研

• 織田 久男

  農環研:(現)エーザイ生科研

• 小笠原 正継

  産総研

• 中井 泉

  東京理大理

• 川崎 晃

  (独)農業環境技術研究所

• 川崎 晃

  農業環境技術研

• 川崎 晃

  独立行政法人農業環境技術研究所

• 箭田(蕪木) 佐衣子

  独立行政法人農業環境技術研究所

• 織田 久男

  独立行政法人農学環境技術研究所

• 松田 賢士

  PANalytical

• 箭田 蕪木

  独立行政法人農業環境技術研究所

• 箭田(蕪木) 佐衣子

  農環研:日本学術振興会

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著作論文

• 蛍光X線分析法による岩石の主成分・微量成分分析と補正法の評価
• 蛍光X線分析法によるホウレンソウ中の無機元素の高感度定量及び産地判別への応用(安心と安全に役立つ分析化学)
• 3次元偏光光学系を利用したエネルギー分散型蛍光X線分析装置による黄銅中有害金属の高感度非破壊分析
• 蛍光X線による銅合金中有害金属の迅速分析
• 1J1500 浮遊粒子状物質の蛍光X線による高感度定量分析と発生源解明のための特性化(5物質-2粒子状物質,一般研究発表)
• 蛍光X線分析法による米試料中カドミウムの簡易迅速スクリーニング分析

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