戸所 秀男 | 日立中研

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• 戸所 秀男

  日立中研

• 戸所 秀男

  日立製作所中央研究所

• 菰田 孜

  日立製作所中央研究所

• 野村 節生

  日立中研

• 竹本 一八男

  日立中研

• 竹本 一八男

  株式会社日立製作所中央研究所

• 戸所 秀男

  日立計測器グループ

• 早川 和延

  日立中研

• 芦川 幹雄

  日立中研

• 松山 秀生

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  日立中研

• 戸所 秀男

  株式会社日立製作所中央研究所

• 菰田 收

  日立中研

• 棟方 忠輔

  日立中研

• 野村 節生

  日立製作所中央研究所

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  (株)日立製作所茂原工場

• 菰田 孜

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• 菰田 孜

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著作論文

• 3-4 シリコン・ターゲット・ビジコンの電子線・X線像観察への応用
• 電子ビームによる抵抗測定 : V : 荷電ビームと応用
• 電子ビ-ムLSIテスタ--低速の電子ビ-ムで損傷なしにLSIを診断する (半導体製造装置と周辺設備)
• 低加速電圧SEMによる絶縁物の表面観察 (マイクロビ-ムアナリシス--局所分析はどこまで進んだか) -- (電子マイクロビ-ムアナリシス)
• 6)FE銃の特徴とその応用(テレビジョン電子装置研究会(第85回))
• FE銃の特徴とその応用(カソードの最近の進歩)
• 透過型走査電子顕微鏡による原子像の観察
• 高分解能STEMおよびエネルギー損失像
• 透過電子線エネルギー分析法による微小領域の元素分析
• 1a-PS-26 磁区観察用偏極走査電顕の高分解能化(1p PS 磁性ポスターセッション(人工格子・強磁場・Laves相・磁気測定))

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