開発 実 | (株)ソニー セミコンダクターソリューションズネットワークカンパニー
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概要
関連著者
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福田 良
株式会社東芝セミコンダクター社半導体研究開発センター
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福田 良
(株)東芝セミコンダクター社半導体研究開発センター
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田村 淳
(株)ソニー セミコンダクターソリューションズネットワークカンパニー
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渡辺 陽二
(株)東芝半導体研究開発センター
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小林 謙二
(株)東芝 セミコンダクター社
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赤松 正志
(株)ソニー セミコンダクターソリューションズネットワークカンパニー
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開発 実
(株)ソニー セミコンダクターソリューションズネットワークカンパニー
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谷口 一雄
(株)ソニー セミコンダクターソリューションズネットワークカンパニー
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渡辺 陽二
(株)東芝セミコンダクター社半導体研究開発センター
著作論文
- 高速大容量混載DRAM Pre-Fuse Wafer-LevelテストのためのBurst-Cycle Data圧縮方式(新メモリ技術, メモリ応用技術, 一般)
- 高速大容量混載 DRAM Pre-Fuse Wafer-Level テストのための Burst-Cycle Data 圧縮方式