工藤 喜弘 | ソニー 中研

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概要

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関連著者

• 工藤 喜弘

  ソニー 中研

• 劉 光佑

  ソニー(株)中央研究所

• 川戸 清爾

  ソニー 中研

• 小島 繁

  ソニー(株)中央研究所

• 工藤 喜弘

  ソニー(株)マテリアル研究所材料解析センター

• 平野 馨一

  高エ研PF

• 川戸 清爾

  ソニー中研

• 平野 馨一

  高エ研 PF

• 川戸 清爾

  ソニー(株)中央研究所

• 工藤 喜弘

  ソニー(株)中央研究所

• 工藤 喜弘

  ソニー中研

• 劉 光佑

  ソニー中研

• 川戸 清爾

  ソニ-株式会社中央研究所材料物性研究部門主幹研究員

• 小島 繁

  ソニ-株式会社中央研究所材料解析センタ-主任研究員

• 工藤 喜弘

  ソニ-株式会社中央研究所材料解析センタ-

• 劉 光佑

  ソニ-株式会社中央研究所材料解析センタ-

• 平野 馨一

  高エ研

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著作論文

• 6. イメージングプレート平面波X線トポグラフィによるSi単結晶の格子歪み解析
• IPトラバース露光法を利用した平面波X線トポグラフの強度分布補正
• イメージングプレートを利用した平面波X線トポグラフィによるシリコン単結晶の格子歪み解析
• ディジタルX線トポグラフィによるシリコンの微小ひずみ解析システムの開発

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