久保田 正明 | 東京工業試験所
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概要
関連著者
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久保田 正明
東京工業試験所
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石田 良平
東京工業試験所
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藤代 芳正
東京工業試験所
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鹿島 次郎
早稲田大学鋳物研究所
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鹿島 次郎
早稲田大学鋳物研究
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長沼 勝義
名古屋工業技術研究所
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村山 精一
日立製作所・中央研究所
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鹿島 次郎
早大鋳物研究所
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久保田 正明
早大鋳物研究所
著作論文
- Effects of Potassium Chloride on the Analytical Characteristics of the Capillary Arc Excitation Source
- The Excitation and the OH Band Rotation Temperatures of a Plasma Jet Light Source
- Choices of Spectral Lines and Published Ag-values in the Measurement of Excitation Temperature of Spectroscopic Light Sources
- レーザーマイクロプローブによる金属試料の分析法に関する研究IV. : スペクトル線強度に与える雰囲気ガスの影響
- 発光分光分析溶液法における噴霧方法による霧の粒度分布
- プラズマジェット光源による固体試料の分析
- 発光分光分析用プラズマジエット光源
- レーザーマイクロプローブによる金属試料の分析法に関する研究 (第2報) : Sn-Pb系合金の消耗と分析法
- レーザーマイクロプローブによる金属試料の分析法に関する研究 (第1報) : ノーマルレーザー光照射による純金属の消耗
- レーザーマイクロプローブによる金属試料の分析法に関する研究 : III. スペクトル線の自己吸収
- レーザーによる発光分光分析
- グリム放電におけるランプの構造と試料表面粗さの影響
- Calculations of the Partial Pressure of OH Molecules in Argon-Plasma Emission Sources for Spectrochemical Analysis
- 金属の分光分析における雰囲気効果 : 光
- 鋳鉄の消耗量とスペクトル線強度に与える組織成分の影響