渡辺 宏 | 日立中央研究所

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概要

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関連著者

• 渡辺 宏

  日立中央研究所

• 渡辺 宏

  日立中研

• 高良 和武

  東大教養

• 永田 文男

  日立中央研究所

• 福原 明

  日立中央研究所

• 高良 和武

  東大教養物理

• 高良 和武

  東京大学

• 外村 彰

  日立中央研究所

著作論文

• 暗視野像へのSystematic interactionの影響 : X線・粒子線
• 4p-Q-10 電子線における異常透過 II
• MgO電顯像における強度異常 : X. 電子線・X線
• 固体による高速電子のエネルギー損失
• 31C6 金属薄膜による電子のエネルギー損失について
• 電子線ホログラフィー

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