黒川 修 | 京大IIC

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概要

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• 黒川 修

  京大IIC

• 酒井 明

  京大IIC

• 酒井 明

  京大工

• 黒川 修

  京大工

• Sakai A

  Division Of Electrical And Computer Engineering Yokohama National University

• Sakai Akira

  Mesoscopic Materials Research Center Faculty Of Engineering Kyoto University

• 筒井 真楠

  大阪大学産業科学研究所

• 箕輪 剛

  京大工

• 筒井 真楠

  阪大産研

• 鈴木 良

  新潟大院自

• 藤井 昭宏

  京大工

• 鈴木 良

  京大工

• 宮武 優

  ユニソク

• 岩成 朋紀

  京大工

• 坂田 東洋

  大阪府大

• 寺前 裕美

  京大工

• 久野 啓志

  京大工

• 向井 康博

  京大工

• 筒井 真楠

  京大工

• 溝端 順一

  京大工

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著作論文

• 20pWH-3 原子サイズSi接点のコンダクタンス(ナノチューブ・ナノワイヤ,領域9,表面・界面,結晶成長)
• 22pPSB-29 Au/BDT/Au単分子接合の高バイアス破断(領域9ポスターセッション,領域9,表面・界面,結晶成長)
• 25pPSB-63 多層カーボンナノチューブの交流インピーダンス(25pPSB 領域9ポスターセッション,領域9(表面・界面,結晶成長))
• 30pXJ-1 原子サイズZn接点のコンダクタンス(30pXJ ナノチューブ・ナノワイヤ,領域9(表面・界面,結晶成長))
• 20pYE-4 Au 1G_0接点の寿命分布(ナノチューブ・ナノワイヤ,領域9(表面・界面,結晶成長))
• 24pXC-9 Ptナノ接点の電流誘起破断(ナノワイヤ・ナノチューブ,領域9(表面・界面, 結晶成長))
• 13aXG-2 Al ナノ接点における電流誘起不安定性(表面ナノ構造量子物性・表面局所光学現象, 領域 9)
• 30pWP-7 Cuナノ接点における電流誘起不安定性(ナノチューブ・ナノワイヤ)(領域9)
• 7aSP-3 AuCu接点の量子化コンダクタンスのバイアス依存性(表面ナノ構造量子物性,領域9)

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