生駒 俊明 | 一橋大学大学院国際企業戦略研究科
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概要
関連著者
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生駒 俊明
一橋大学大学院国際企業戦略研究科
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生駒 俊明
日本テキサス・インスツルメンツ株式会社
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栗原 由紀子
東京大学生産技術研究所
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生駒 俊明
株式会社テキスインスツルメンツ筑波研究開発センター
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生駒 俊明
株式会社テキサスインスツルメンツ筑波研究開発センター
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生駒 俊明
(株)テキサス・インスツルメンツ筑波研究開発センタ-
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生駒 俊明
(株)テキサス・インスツルメンツ筑波研究開発センター
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坂内 正夫
東京大学生産技術研究所
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栗原 由紀子
東京大学 第3内科
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横山 直樹
(株)富士通研究所基礎技術研究所機能デバイス研究部
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大来 雄二
(株)東芝
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遠山 敦子
文化庁長官
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黒田 玲子
東京大学教養学部
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黒田 玲子
東大 教養
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坂内 正夫
東京大学生産技術研所
著作論文
- 科学技術が文化になる
- 5-1 情報・電気・電子分野の21世紀COE,審査の立場より(5.大学での研究プロジェクト : 21世紀COEプログラム)(グローバル化時代の教育と研究)
- ディジタルビデオ技術の研究開発(4.わが社の映像情報メディアへの取組み)(映像情報メディアの時代へ)
- 量子効果デバイスは実現するか? : 量子効果デバイスは実用化されるか
- 国際学会虎の巻(3) : 国際学会への参加と運営(国際交流ノート(第3回))
- 国際学会虎の巻(2) : 英語発表の心得(国際交流ノート)
- 国際学会虎の巻(1) : 英語論文の書き方(国際交流ノート(第1回))
- 物性材料デバイス研究者からみた電子情報通信学会
- 研究解説 : 化合物半導体中の深い準位
- 雑音-3完-半導体デバイスの雑音(講座)
- GaAsプレ-ナ形デバイスに対するトラップと基板の影響(技術談話室)
- 半導体中の深い不純物準位の性質とその測定-3完-Si,GaAs,GaP中の不純物準位とデバイス特性
- 半導体中の深い不純物準位の性質とその測定-2-深い不純物準位の動的パラメ-タの測定法(講座)
- 半導体中の深い不純物準位の性質とその測定-1-半導体中の深い不純物準位の電気的・光学的性質(講座)
- 企業価値を最大化するための技術経営 (特集 MOTを考える)
- スウェーデン王立工科大学(海外だより)