渡邊 裕治 | 東京大学 生産技術研究所
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概要
関連著者
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渡邊 裕治
日本アイ・ビー・エム東京基礎研究所
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渡邊 裕治
東京大学生産技術研究所
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渡邊 裕治
東京大学 生産技術研究所
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今井 秀樹
東京大学 生産技術研究所
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古原 和邦
東京大学 生産技術研究所
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花岡 悟一郎
産業技術総合研究所 情報セキュリティ研究センター
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駒木 寛隆
東京大学 生産技術研究所
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花岡 悟一郎
東京大学 生産技術研究所
著作論文
- Oblivious Polynomial Evaluationを用いた非対称不正者追跡法
- 磁気ストライプによる非耐タンパカードの偽造防止に関する一検討
- 偽造困難な乱数に基づくシステムの安全性の評価
- 匿名性を有するマルチグループ署名方式