太田 周一 | (株)リコー生産事業本部pgup事業部qm推進室

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関連著者

• 太田 周一

  (株)リコー電装ユニットカンパニーQM推進室

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• 鈴木 和幸

  電気通信大学システム工学科

• 鈴木 和幸

  電気通信大学

• 鈴木 和幸

  電気通信大学大学院電気通信学研究科

• 鈴木 和幸

  電気通信大学大学院情報システム学研究科社会知能情報学専攻

• 味岡 恒夫

  (株)東レリサーチセンター

• 土屋 英晴

  アンデン(株)

• 安達 健二

  (株)東芝

• 小林 健二

  日本電気(株)

• 高森 圭

  沖エンジニアリング(株)

• 鈴木 和幸

  電気通信大学大学院

• 高森 圭

  沖エンジニアリング株式会社

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著作論文

• 電子回路基板のリユース信頼性予測
• パネルディスカッション : 高信頼性時代における部品選定(セッション3「日本信頼性学会故障物性研究会パネルディスカッション」)
• 4.2 モンテカルロ法による電子回路のばらつき解析 : ばらつき問題未然防止への試み(セッション4「管理・サービス」)(第16回信頼性シンポジウム発表報文集)
• 4-2 モンテカルロ法による電子回路のばらつき解析 : ばらつき問題未然防止への試み
• [2-4] ばらつき解析による電子回路基板の信頼性予測(試験・故障解析, 第13回春季信頼性シンポジウム報告)
• 2-4 ばらつき解析による電子回路基板の信頼性予測(試験・故障解析,セッション2,第13回春季信頼性シンポジウム)
• 3-2 劣化を考慮した電子回路のばらつき解析 : ばらつき問題未然防止への試み(日本信頼性学会第12回研究発表会発表報文集)

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