森井 久史 | 株式会社ANSeeN
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概要
株式会社ANSeeN | 論文
- 放射角制御可能なマイクロカラム用電子銃の作成と評価(電子管と真空ナノエレクトロニクス及びその評価技術)
- X線検査装置向けフォトンカウンティング検出器 (特集 損傷や欠陥を見抜く非破壊検査)
- Emission and Focusing Characteristics of a Quintuple-Gated Field Emitter Array
- X線デジタルスペクトロメータ「ANS-XDS0001」 (特集 高精細・高コントラストを実現する!X線検査装置)
- マイクロサイズの電子線筐筒の開発とその応用(機能ナノデバイス及び関連技術)