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佐野 正人 | 山大院理工
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山大院理工 | 論文
13aXC-3 Ge_Mn_xTe の Mn 2p-3d XMCD(吸収分光・MCD・光電子分光, 領域 5)
非対称な人工ピンを導入したNb膜のビーンモデルを用いたJ_c分布の評価
MO観察による非対称な人工ピンを導入した超伝導Nb膜の磁束ピンニング特性の評価
溝状人工ピンニングセンターを導入した超伝導Nb膜における磁束密度分布の観察
非対称な人工ピンニングセンターを導入した超伝導膜のMO観察
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