小林 亘 | NTT フォトニクス研究所
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概要
NTT フォトニクス研究所 | 論文
- InP系HEMTの信頼性評価 : ソース抵抗及びドレイン抵抗の変動
- InP系HEMTの信頼性評価 : ソース抵抗及びドレイン抵抗の変動
- InAlAs/InGaAs HEMTにおけるドレインコンダクタンス周波数分散現象の解析 : 衝突イオン化モデルによる現象の説明
- スーパーコンティニウム光源を用いた10000波長・高確度光キャリア発生(高効率FEC,電気処理による分散・PMD補償技術,波形モニタリング,一般)
- C-3-117 石英系平面光波回路スイッチと光ファイバ配線板を用いた 128x128 光スイッチシステム