PARK Jai-Eok | ESPEC MIC Corp.
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概要
論文 | ランダム
- 収差補正STEMを用いたEELSによる原子カラムマッピング
- 球面収差補正STEMによるシリコン結晶中アンチモン原子の置換位置移動の直接観察
- 24aYK-11 球面収差補正STEMによるシリコン中ドーパント原子の運動の観察(24aYK X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
- 展示デザインにおける「更新」の意義について
- 214 感圧塗料の高感度化およびその応用