HUANG Xuezhen | Department of Electrical and Computer Engineering, University of Wisconsin-Madison
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概要
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- Department of Electrical and Computer Engineering, University of Wisconsin-Madisonの論文著者
Department of Electrical and Computer Engineering, University of Wisconsin-Madison | 論文
- 組合せ回路および順序回路に対する診断用テスト圧縮法(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術, テスト技術)
- Addressing Defect Coverage through Generating Test Vectors for Transistor Defects
- 組合せ回路および順序回路に対する診断用テスト圧縮法(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術, テスト技術)
- トランジスタ短絡故障モデルにおける等価故障解析について
- Addressing Defect Coverage through Generating Test Vectors for Transistor Defects