工藤 重樹 | 東レエンジニアリング(株)エレクトロニクス事業本部開発センター
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概要
東レエンジニアリング(株)エレクトロニクス事業本部開発センター | 論文
- 単色光干渉法による透明膜に覆われた物体の膜厚と表面形状の同時測定
- 2波長ワンショット干渉計測(ViEW推薦論文)
- 透明膜で覆われた物体のワンショット干渉計測法
- 白色光干渉法による透明膜に覆われた物体の膜厚と表面形状の同時測定
- Active Learning for Maximal Generalization Capability (Applications of the theory of reproducing kernels)