藤井 千陽 | 産業技術総合研究所
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概要
産業技術総合研究所 | 論文
- 個人認証システム「あわせ絵」の安全性と利便性に関する評価実験(信頼性,ユビキタス社会を支えるコンピュータセキュリティ技術)
- 画像を用いた個人認証手法
- 高対話型おとりシステムの運用経験に関する考察(ネットワークセキュリティ)(プライバシを保護するコンピュータセキュリティ技術)
- Snort View: NIDSの誤検知判別を目的とした視覚化システム(可視化)(「インタラクション:理論,技術,応用,評価」)
- あわせ絵 : 画像登録と利用通知を用いた正候補選択方式による画像認証方式の強化法(アクセス制御・認証)(新たな脅威に立ち向かうコンピュータセキュリティ技術)