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中田 亮生 | 大阪電気通信大学・工学部
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大阪電気通信大学・工学部の論文著者
大阪電気通信大学・工学部 | 論文
遷移金属(薄膜)-Si(基板)系における(埋もれた)界面の電子状態とその構造
軟X線分光法の薄膜・界面非破壊分析への新しい応用
軟X線分光法とシリコン化合物・薄膜系
軟X線分光法による表面層非破壊分析
子個体生成数を適応的に変化させる分散型パラメータフリー遺伝的アルゴリズム
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