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日本顕微鏡学会分析電子顕微鏡分科会 | 論文
- 元素分析のための生体硬組織試料作製法 (試料作製の新展開)
- 雰囲気遮断FIB/STEMシステムを用いた活性材料の構造解析 (検出器・ホルダーの最前線)
- 電解研磨法と抽出レプリカ法 (試料作製)
- 暗視野法、CBED(1)暗視野法 (チュートリアル)
- エネルギー分散型X線分光(EDS)法 (チュートリアルセッション)
- EDSマッピング (チュートリアル)
- 電子線検出器の現状と将来 (電子顕微鏡・装置開発の将来を探る)
- Voltage Optimizationの一環としての低加速電圧SEM (最新分析手法とその応用)
- FIBによる半導体解析のための試料作成技術 (ハードマテリアル評価の最前線)
- 最新FIBの紹介日立FB-2100形集束イオンビーム装置 (デバイスプロセス評価最前線)
- モノクロメータの開発 (分析電顕のハード最前線)
- 金属中のナノ粒子 (材料開発における分析電顕の応用)
- EELSフィルタリング--エネルギーフィルターTEM法 (チュートリアル)
- 試料作製の基礎と応用 半導体系応用 (試料作製の基礎と応用展開)
- トモグラフィ手法を用いた三次元電子顕微鏡 (最新の分析技法)
- ELNESの理論計算による解釈--最新の技法と応用例 (最新のシミュレーション技法)
- 凍結切片による生物試料の分析電顕法 (ナノテクノロジーへの最新分析電顕Methodology)
- 生体材料--褐色脂肪細胞のイオン分析 (試料作製法の新展開)
- 高分解能用液体窒素冷却ホルダーの開発と金単層ナノチューブの発見 (分析技法の最前線)
- 強度輸送方程式に基づく位相回復法 (分析技術の進展--ソフトの最前線)