軟X線放射光光電子分光法を用いたSiO中の光電子の見かけの有効減衰長測定とその問題点 (表面分析研究会 第37回研究会 講演資料)

スポンサーリンク

概要

• 論文の詳細を見る

著者

• 井上 敬介

  兵庫県立大学大学院 物質理学研究科

関連論文

• 放射光光電子分光法によるSiO_2薄膜の有効減衰長の実験的決定
• 放射光光電子分光法によるSiO2薄膜の有効減衰長の実験的決定
• 軟X線放射光光電子分光法を用いたSiO中の光電子の見かけの有効減衰長測定とその問題点 (表面分析研究会 第37回研究会 講演資料)

スポンサーリンク