電子後方散乱回折(EBSD)による構造材料の損傷評価(測定手順標準化のための測定品質の定量評価)

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概要

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著者

• 釜谷 昌幸

  (株)原子力安全システム研究所

• 釜谷 昌幸

  株式会社原子力安全システム研究所

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