Influences of measurement conditions on etching rate of GaAs/AlAs superlattice in Auger electron spectroscopy sputter depth profiling (Extended abstracts book of the International Workshop for Surface Analysis and Standardization '09 (iSAS-09))
スポンサーリンク
概要
表面分析研究会 | 論文
- バイオ関連評価におけるTOF-SIMSの可能性
- 最適化された低エネルギー一次イオン照射下におけるTOF-SIMSサンプリング深さの極浅化
- X線定在波法によるSrTiO3結晶のサイト選択的XPS測定
- 集束イオンビームを用いて作製した薄片試料による深い界面のオージェ電子分光法スパッタ深さ方向分析
- ポーラスな試料のAES分析用断面作製技術