原子間力顕微鏡を用いた単一応力発光マイクロ/ナノ粒子の発光評価

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概要

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著者

• 寺崎 正

  産業技術総合研究所 九州センター

• 寺崎 正

  産業技術総合研究所(AIST)生産計測研究センター

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