半導体の薄膜蒸着試験 (第41回京都大学原子炉実験所学術講演会 報文集)
スポンサーリンク
概要
著者
関連論文
- 23pBA-12 J/ψ→ΛΛ^^- eventを用いたBell不等式の検証(23pBA フレーバー物理,素粒子実験領域)
- 26pZJ-7 CCD型中性子検出器の性能評価(半導体検出器,ニュートリノモニター,素粒子実験領域)
- 26pZJ-8 超冷中性子用ピクセル検出器の開発(半導体検出器,ニュートリノモニター,素粒子実験領域)
- 13pSE-3 重力場による超冷中性子の量子化状態測定 : 半導体検出器の薄膜蒸着試験(13pSE 超冷中性子/DAQ・トリガー,素粒子実験領域)
- 13pSE-2 重力場による超冷中性子の量子化状態測定 : 高位置分解能UCN測定器の開発(13pSE 超冷中性子/DAQ・トリガー,素粒子実験領域)
- 半導体の薄膜蒸着試験 (第41回京都大学原子炉実験所学術講演会 報文集)
- 11aSA-1 J/ψ→ΛΛ^^- eventを用いたBell不等式の検証(フレーバー物理,招待講演,企画講演,素粒子実験領域)