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P〔+〕イオン注入(11-20)4H-SiCの特性
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法政大学イオンビーム工学研究所の論文
法政大学イオンビーム工学研究所 | 論文
フラーレン・ナノウィスカーの結晶構造と分子ダイナミクス
LSI配線層に用いるスパッタAI薄膜の比抵抗
磁気多層膜と放射線検出器
低ゲートリーク電流Siイオン注入GaN/AlGaN/GaN HEMTのオン抵抗低減化
Nイオン注入4H-SiCの結晶性と電気特性の評価
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