アウトルック サムスン電子 進化する経営

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概要

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• 2006-06-24

論文 | ランダム

• 圧電高分子フィルムを用いた新ひずみ測定法
• 重ね合わせ圧電高分子フィルムを用いた一定繰り返し荷重によるひずみ測定法(OS8-1 新しい変形・応力測定,OS8 実験力学の新たな発展)
• 非線形要素を用いた制御系の有限時間整定補償
• パラメ-タ変動とアクチュエ-タ系の構成に関する考察
• ヒステリシスフィ-ドバックによる位置決めサ-ボ系の有限整定補償

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