EELS分析の基礎とマッピング (チュートリアル:上手に分析するために)

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概要

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• 日本顕微鏡学会分析電子顕微鏡分科会の論文
• 2003-09-10

著者

• 倉田 博基

  京大・化研

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• D. C. Joy, A. D. Roming, Jr. and J. I. Goldstein 編: Principles of Analytical Electron Microscopy, Plenum Press, New York and London, 1986, xvi+448ページ, 26×17cm, 9,660円.

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