遺跡発掘調査での非接触3次元計測--デジタル画像測量システムPI-1000 (特集 非接触表面形状計測)

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概要

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• 日本工業出版の論文

著者

• 高地 伸夫

  トプコン 研究開発セ

• 大谷 仁志

  (株)トプコン 測量機器事業部

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