Si(100)表面の低速電子線回折法による構造解析

スポンサーリンク

概要

• 論文の詳細を見る
• 電気通信大学の論文

著者

• 杉岡 哲也

  電通大

• 山崎 尚

  電気通信大学電子物性工学科物性工学講座

• 杉岡 哲也

  電気通信大学電子物性工学科物性工学講座

• 荻尾 卓也

  電気通信大学電子物性工学科物性工学講座

関連論文

• 12p-PSA-41 (Y_Pr_x)Ba_2Cu_4O_8の酸素吸収端近傍におけるX線吸収
• 第12回真空国際会議・第8回固体表面国際会議報告
• 弦の振動によるヤング率の測定
• Si(100)表面の低速電子線回折法による構造解析
• Si(100)表面の低速電子線回折法による構造解析
• Ta(100)表面の清浄化過程
• 熱放出型リチウムイオン源
• Ta(100)表面のLEEDによる構造解析

スポンサーリンク