応力シミュレーションによる多層配線の不良解析 (MES'97(第7回マイクロエレクトロニクスシンポジウム論文集))

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概要

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• エレクトロニクス実装学会の論文
• 1997-10-20

著者

• 横内 貴志男

  富士通研究所

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