信頼性(8)電子デバイスの故障解析

スポンサーリンク

概要

• 論文の詳細を見る
• 日本科学技術連盟の論文

著者

• 山 悟

  富士ゼロックス(株)

関連論文

• 3-6 劣化量データの解析方法に関する一考察 : 水晶発振器の周波数データの解析(第41回研究発表会)
• 第9回信頼性シンポジウムの報告
• 日米の信頼性技術の比較 : 6種類の文献調査に基づく検討( 今アメリカでは)
• 2B-2 FT-IRの故障解析への応用(第3回信頼性研究発表会REAJ)
• 社会システムの信頼性
• 信頼性(8)電子デバイスの故障解析
• 第5回研究発表会の報告
• 使用者が留意すべき電子部品の故障モードとメカニズム

スポンサーリンク