Energy and Mass Analyses of Secondary Positive Ions from Silicon Wafer Surfaces
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概要
日本質量分析学会 | 論文
- 赤外レーザーマトリックス支援レーザー脱離イオン化法の波長依存性に関する研究と応用
- レーザースプレー質量分析が可能にした生体高分子複合体の結合親和性の定量的な解析
- 癌細胞における抗アポトーシス分子TUCAN-54の役割
- 有機アミン塩類に対するクラウンエーテル類のキラル認識能 : エナンチオマー標識ゲスト法を用いるFABマススペクトロメトリー
- スタティックSIMS法の基礎と応用