イオンビ-ム照射に基づくスパッタ-された粒子と2次電子イ-ルドの非等方角度分布〔英文〕
スポンサーリンク
概要
著者
関連論文
- 30p-SG-4 化合物結晶中の転位の格子像観察
- イオンビ-ム照射に基づくスパッタ-された粒子と2次電子イ-ルドの非等方角度分布〔英文〕
- 準同型フィルタリングによるSEM像におけるコンタミネ-ションの影響の除去〔英文〕
- Power Potential法則に基づいたイオンビ-ムスパッタリングのエネルギ-損失の電圧依存カ-ブ〔英文〕
- 情報伝送理論に基づいたSTEMにおけるフレネル干渉縞の形像〔英文〕
- イオン・ビ-ム・シンニング法によるCdSeの構造解析〔英文〕
- ボクセル処理による連続切片再構築〔英文〕
- 像の自己相関関数の修正に基づくノイズフィルタリングの応用〔英文〕
- 電子顕微鏡像のディジタル画像処理
- 200kV透過形電子顕微鏡における薄膜試料X線定量分析
- 生物試料の高分解能SEM観察のためのイオンビ-ムエッチング技法〔英文〕
- 高速フ-リエ変換(FFT)による自己相関関数の逆変換フィルタリングの高速処理〔英文〕
- 高分解能電子顕微鏡におけるイオンビ-ム照射に基づく生物試料のモレキュラ-スパッタリング理論〔英文〕
- 高解像度透過型電子顕微鏡の円錐形試料汚れの形成理論〔英文〕
- オンライン構造解析電子顕微鏡
- 走査電子顕微鏡における2次及び3次の非点収差による火面模様〔英文〕
- 高分解能電子顕微鏡のための対物レンズの焦点と非点収差の測定法〔英文〕
- Digital image memoryを装備した電界放射型走査電子顕微鏡の0.5s/frame走査の有効性について〔英文〕
- オンライン・ディジタルコンピュ-タを用いた後方散乱電子像の解像度改善法-2-〔英文〕
- イオンビ-ム・スパッタリング法によるカ-ボン支持膜上薄膜蒸着〔英文〕
- 自己相関関数の修正によるフィルタリング法〔英文〕
- 高分解能電子顕徴鏡におけるイオンビ-ム照射による試料汚れの軽減法〔英文〕
- 改良形homomorphic filterのSEM・TEM像への応用
- オンライン・ディジタルコンピュ-タを用いた後方散乱電子像の解像度改善法〔英文〕
- 物質との相互作用を考慮したイオンビ-ム拡散モデル〔英文〕
- 電子顕微鏡におけるマイクロ・ビ-ム照射下での試料の温度上昇〔英文〕
- 電子顕微鏡による螺旋構造を持つ生物試料の構造解析〔英文〕
- ミラ-・ブラビス指数に基づいた3次元的断面モデル及びヒラノ・ボディ-のシュミレ-ション〔英文〕
- 像と自己相関関数の可逆変換によるノイズ除去法〔英文〕
- 情報伝送理論に基づくSTEMの形像理論〔英文〕
- オンライン画像処理付構造解析電子顕微鏡 (画像センシング技術)
- 電子顕微鏡ディジタル画像処理による構造解析 (イメ-ジング・テクノロジ-)
- 電子顕微鏡による,ら旋平野小体の単位胞のディジタル構造解析〔英文〕
- 電子顕微鏡による,ら旋平野小体のフ-リェ合成法〔英文〕
- 高分解能電子顕微鏡のためのイオンビ-ムスパッタリングの基礎特性〔英文〕
- 走査電子顕微鏡におけるon-line computer systemのメリット〔英文〕
- オンライン・ディジタルコンピュ-タを用いたSEMビ-ム径測定の自動化〔英文〕
- ディジタル画像解析による"Alveolar soft part sarcoma"の構造解析〔英文〕
- ラプラシアン演算子による走査型電子顕微鏡像のディジタル処理を用いた解像度の改良〔英文〕
- 情報伝送理論に基づいた走査電子顕微鏡の形像理論〔英文〕
- 電顕像における結晶体格子像からの構造解析のためのディジタル処理法〔英文〕