企業シリーズ(2)SDPA紹介--シャドウ・ドップラ・パーティクル・アナライザ

スポンサーリンク

概要

• 論文の詳細を見る

著者

• 上山 幸司

  日本カノマックス株式会社

関連論文

• プロセス・トモグラフィシステムの紹介
• F02(5) プロセス・トモグラフィーシステムの紹介と実演(F02 プロセス・トモグラフィー計測の新しい展開(実演付き),先端技術フォーラム,21世紀地球環境革命の機械工学:人・マイクロナノ・エネルギー・環境)
• ピエゾバランス式粉じん計MODEL3521について
• レーザを用いた流体,粒子の測定器の紹介 (特集 流れの非破壊非接触計測とその応用)
• R04-(4) Shadow Doppler Particle Analyzer
• 粒子の形状・速度の同時測定について (特集:流速・速度・方向をレーザで計る)
• 企業シリーズ(2)SDPA紹介--シャドウ・ドップラ・パーティクル・アナライザ

スポンサーリンク