2光束変調型118.8-μm CH3OHレ-ザ-干渉計によるJIPP T-2プラズマの電子密度測定
スポンサーリンク
概要
著者
関連論文
-
4a-N-9 2ビーム変調型遠赤外レーザ干渉計(II)
-
3a KF-5 レーザープラズマからのXUV輻射
-
4a-H-4 HCNレーザーによる大気圧マイクロ波放電プラズマの測定
-
2a-Y-7 二光束変調型遠赤外レーザー干渉計
-
30p-W-36 二光束変調型遠赤外レーザー干渉計 V
-
4a-N-10 二光束変調型レーザー干渉計 VI
-
30a-Y-6 二光束変調型CH_3OHレーザー励起用CO_2レーザー
-
28a-T-8 STP-3 密度計測 I : 2ビーム変調型遠赤外レーザー干渉計
-
27p-S-8 二光束変調型レーザー干渉計によるJIPP T-IIの電子密度測定
-
5a-D-7 二光束変調型レーザー干渉計 III
-
3p KB-6 遠赤外双子型レーザー干渉計 II
-
3a GL-5 光励起遠赤外CH_3OHレーザーの同調曲線に現われる非対称ダブレット
-
6a-CM-9 2光東変調型遠赤外レーザー干渉計
-
4p-RB-13 JlPPT-IIUにおける遠赤外散乱計測II
-
4a-H-3 大気圧中のマイクロ波放電の実験
-
ファラデー回転光ファイバー磁界測定器による JIPP T-IIU のポロイダル磁場測定
-
12a-DG-4 JIPPT-IIUにおける遠赤外散乱計測
-
2a-SB-24 遠赤外レーザー散乱による低周波密度揺動の測定
-
1a-Y-14 JIPP T-IIにおけるミリ波・サブミリ波散乱
-
31p-W-5 JIPPT-IIにおける遠赤外レーザー散乱I
-
5a-Q-9 Current-Driven Alfven Instability
-
6a-Q-11 TPD-III入口側ポイントカスプの337μ干渉計による電子密度測定
-
2光束変調型118.8-μm CH3OHレ-ザ-干渉計によるJIPP T-2プラズマの電子密度測定
-
遠赤外レ-ザ-によるトカマックプラズマの電子密度測定 (プラズマおよび制御熱核融合に関する技術研究会報告-7-)
-
5p-D-4 準定常高密度プラズマ源
-
2p-C-17 HCNレーザーによるSPAC-IIトカマックプラズマの密度測定
-
8a-U-3 TPDプラズマの部分的局所熱平衡状態
-
3p-R-5 プラズマへの中性ガス導入による強い発光について
-
A. S. Predoditelev編, A. Barouch訳, P. Greenberg訳 : High-Temperature Properties of Gases ; Physical Gas Dynamics, Thermodynamics, and Physics of Combustion, Israel Program for Scientific Translation, Jerusalem, 1969, vi+208ページ, 24.5×17.5cm, $12.60.
-
11p-F-8 HCNレーザーの微小フリンヂの測定II
-
5a-KT-12 高気圧マイクロ波放電プラズマのHCNレーザー光の吸収
-
23p-C-5 HCNレーザーの微少フリンジ測定
-
18p-G-1 HCNレーザーによる密度測定から見たTPDプラズマの生成機構
もっと見る
閉じる
スポンサーリンク