X線マイクロアナライザによる金属の定量分析法の現状-1-ZAF補正法の検討(資料)
スポンサーリンク
概要
著者
関連論文
- 1p-M-6 AlおよびCuのK-EXAFSにおける多重散乱効果
- 2a-NR-10 Si,GeおよびWのEXAFSにおけるDebye-Waller factorのshell依存性
- X線マイクロアナライザによる金属の定量分析法の現状-2-実験技術上の諸問題(資料)
- X線マイクロアナライザによる金属の定量分析法の現状-1-ZAF補正法の検討(資料)
- 4a-AD-3 電子衝撃による炭素のコンタミネーションとAl L-発揮強度
- 硫化物及び硫酸塩中のいおうのX線K-発揮スペクトル