FEM・FIM・アトムプロ-ブによる異金属界面の研究

スポンサーリンク

概要

• 論文の詳細を見る
• 応用物理学会の論文

著者

• 西川 治

  東京工業大学大学院

関連論文

• FEM・FIM・アトムプロ-ブによる異金属界面の研究
• アトムプロ-ブによる吸着原子・分子の直接分析法
• 電界放射を利用した顕微鏡法と質量分析法
• アトムプローブ電界イオン顕微鏡型質量分析器
• 良い英文を書くために : 英文校閲者のつぶやき
• 電界イオン顕微鏡--原子の直接観察法
• 原子の直接観察法と極微細加工への応用(技術展望)

スポンサーリンク