Smart-Modelを用いたシステムシミュレーション手法
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概要
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近年,半導体プロセス技術の向上に伴い,システム・オン・チップをめざして開発するLSIは大規模化の傾向にある.従って,1つのLSIで実現する機能は複雑になり,それを検証するためのテストデータの作成量と検証時間が膨大となり限られた時間で実現できないと言った,問題がある.今回これらを解決する手段として,市販のシミュレーションモデルを用い,非同期回路を含んだシステムシミュレーションを実現した.
- 電子情報通信学会の論文
- 1994-09-26
著者
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金子 和夫
富士通マイクロソリューションズ株式会社
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金子 和夫
富士通ディジタル・テクノロジ(株)
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上野 靖典
富士通ディジタル・テクノロジ(株)
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稲垣 博彦
富士通ディジタル・テクノロジ(株)
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黒須 賢吾
富士通ディジタル・テクノロジ(株)
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大山 哲政
富士通ディジタル・テクノロジ(株)
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