Au(111)上のフッ化フラーレンC<SUB>60</SUB>F<SUB>36</SUB>のSTM観察
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概要
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フラーレン（C<SUB>60</SUB>）を、電気陰性度の高いフッ素(F)で修飾したフッ化フラーレンは強い吸電子性を示す。本講演では、その一つであるC<SUB>60</SUB>F<SUB>36</SUB>をAu(111)上に吸着させ、走査トンネル顕微鏡（STM）及びトンネル分光（STS）を用いて観察した結果を報告する。<BR>C<SUB>60</SUB>F<SUB>36</SUB>は六回対称性を持つ分子島を形成し、そのバンドギャップは約3.6eVと、C<SUB>60</SUB>より高い値であることが分かった。また、対称性が異なる二つの分子内構造が観察された。
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公益社団法人 日本表面科学会 | 論文
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