光学ポテンシャルを用いた平均自由行程の計算
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概要
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XPSやEELSなどにおいて平均自由行程(MFP)は電子分光の表面敏感性を決定付ける重要な役割を果たす。MFPは通常電子気体の方法で計算されるが、我々はより現実に即した計算方法として光学ポテンシャルを用いて計算を行った。多体効果を考慮する光学ポテンシャルは非エルミートな複素ポテンシャルで、電子の減衰を記述することが可能である。実際に金属の系で計算を行った結果、実験で求められたMFPをよく再現することができた。
- 公益社団法人 日本表面科学会の論文
公益社団法人 日本表面科学会 | 論文
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