直衝突イオン散乱分光 (ICISS)
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概要
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実験が容易で,データの解析が直観的に行なえるため,表面原子構造の定性的解析に多用されてきた低速イオン散乱分光 (ISS) を散乱角のとり方に関して特殊化した直衝突イオン散乱分光 (ICISS) は,表面原子構造の定量的解析を可能にすると同時に,表面欠陥の構造や表面電子の二次元空間分布の解析にも有効である.この新技法の原理と応用例について述べる.
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公益社団法人 応用物理学会 | 論文
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