Molecular Imaging of Chemical Compounds in Plant Tissue by Time-of-flight Secondary Ion Mass Spectrometry

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概要

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• Time-of-flight secondary ion mass spectrometry (TOF-SIMS) is a non-destructive technique that allows for direct imaging of molecular ions with high spatial resolution on sample surface. In this review, the application of TOF-SIMS imaging at the cellular level in the investigation of wood chemical components including lignin is described.

著者

• 福島 和彦

  名古屋大学大学院生命農学研究科

• 齋藤 香織

  京都大学大学院農学研究科

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