一般化したMattauch-Herzog型質量分析器の二重収速条件とその配置収差について

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概要

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• As an example of charged particle optics expressed in a matrix formalism, the condition to be filled between two fields in the case of the generalized Mattauch-Herzog type mass spectrograph is derived.<BR> The general formulae of the setting aberrations are given by the partial differentiation of each element.The setting aberrations are calculated and tabulated for the common Mattauch-Herzog type mass spectrograph which consists of a π/4√2 cylindrical electrostatic analyzer followed by a 90° homogeneous magnetic field. The results are compared with those given by T. Kitagaki and the difference is discussed.

• 日本質量分析学会の論文

著者

• 竹下 功

  松下電器産業 中研

• 竹下 功

  松下電器産業(株)無線事業本部研究所

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