フォトン・ファクトリーにおけるX線測定系 : ―多線式比例検出器―

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概要

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• Recent developments and the present state of art of the position sensitive proportional counters for X-ray diffraction are described. This kind of detector incorporated to a highspeed memory can provide very powerful means for rapid collection of diffraction data using synchrotron radiation. Briefly described are various methods for reading out impact locations of X-ray photons from multiwire proportional chamber detectors.

著者

• 泉 隆俊

  中部工業大学

• 橋爪 弘雄

  東京大学工学部

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